Molnár Zsolt

INTEGRATED CIRCUIT FOR MILITARY AND DEFENSE PURPOSES,
SUPPORTING THE TESTING OF ANALOG CIRCUITS WITH USE OF BIST

Abstract

The increase in the number of electronic systems – just like in electronic military systems –, the increase of complexity, and the high demands of reliability and operation safety requires new error diagnostic methods. It is relatively simple testing by method of BIST (Built-In Self Test) the digital devices which are compatible to IEEE-1149.1 boundary scan standard. On the other hand, built-in self testing analogue or mixed signal circuits are difficult, or it is can’t implement. In this paper I suggest to create an integrated circuit, or functional “building block”, which can be controlled over IEEE-1149.1, and it is able to generate the current for measurement purposes, and to sense the produced voltage.

Az elektronikai rendszerek – és így a katonai elektronikai rendszerek – számának növekedése és összetettebbé válása, valamint a velük szemben támasztott megbízhatósági és üzembiztonsági követelmények teljesítése új hibadiagnosztikai módszerek alkalmazását teszi szükségessé. A peremfigyeléssel (IEEE-1149.1) rendelkező digitális áramkörök bevonása a beépített öntesztbe viszonylag egyszerűen megvalósítható. Ezzel szemben az analóg vagy kevert jelű áramkörök beépített öntesztbe vonása nem, vagy csak nehézkesen valósítható meg. Jelen cikkben javaslatot teszünk egy olyan integrált áramkör, illetve funkcionális egység létrehozására, amely IEEE-1149.1 peremfigyeléses buszon keresztül vezérelhető, és képes előállítani a kevert jelű áramkörök beépített önteszteléséhez a gerjesztő áramot, és mérni a válaszfeszültséget.

Keywords: self test, mixed signal test, boundary scan, automatic testing ~ önteszt, kevert jelű teszt, peremfigyelés, automatizált tesztelés

 

A teljes cikk megtekintése »

 

Vissza a tartalomhoz